[发明专利]一种光配向特性检测方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201410770463.6 | 申请日： | 2014-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN104460062B | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 宋彦君 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何青瓦 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光配向特性检测方法、装置及系统，其中，该方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。通过上述方式，本发明能够把偏振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 特性 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种光配向特性检测方法，其特征在于，所方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，相应地确定最大光强和最小光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。
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