[发明专利]一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法。所述故障诊断方法利用熵信息对被测电路参数敏感的特性，利用拉格朗日乘数法导出被测电路输出响应的概率密度函数，然后利用最大似然法，估计得到被测电路输出的Rényi熵定义公式中的自由参数α，最后利用概率密度函数和自由参数α，计算得到被测电路输出的Rényi熵，利用对应于未知故障电路输出和无故障电路输出的Rényi熵之间的差异，完成故障诊断。与现有技术相比，本发明在噪声中诊断参数型故障效果好，鲁棒性强，且只需单测点，对电流信号和电压信号皆适用，计算复杂度低。

主权项

一种基于信息熵的集成电路故障诊断方法，其特征在于：所述集成电路故障诊断方法步骤如下：(1)将被测电路的各个元件参数设置为标称参数，对该被测电路进行实测或仿真，得到各元件标称参数下的无故障被测电路的输出电压值或电流值；(2)对步骤(1)中得到的输出电压值或电流值采用拉格朗日乘数法，计算得到各元件标称参数下的无故障被测电路输出电压或电流的概率密度函数；(3)对步骤(2)中得到的概率密度函数采用最大似然法，计算得到各元件标称参数下的无故障被测电路输出Rényi熵定义公式中的自由参数α；(4)根据步骤(2)中得到的概率密度函数和步骤(3)中得到的自由参数α，计算得到各元件标称参数下的无故障被测电路输出的Rényi熵值A；(5)对未知故障的被测电路进行实测，得到未知故障被测电路的输出电压值或电流值；(6)对步骤(5)中得到的输出电压值或电流值采用拉格朗日乘数法，计算得到未知故障被测电路输出电压或电流的概率密度函数；(7)对步骤(6)中得到的概率密度函数采用最大似然法，计算得到未知故障被测电路输出Rényi熵定义公式中的自由参数α；(8)根据步骤(6)中得到的概率密度函数和步骤(7)中得到的自由参数α，计算得到未知故障被测电路输出的Rényi熵值B；(9)将步骤(4)中得到的各元件标称参数下的无故障被测电路输出的Rényi熵值A，与步骤(8)中得到的未知故障被测电路输出的Rényi熵值B进行比较；如果则未知故障的被测电路中存在故障；如果则未知故障的被测电路中无故障。