[发明专利]半导体圆片级封装结构有效
申请号: | 201410800043.8 | 申请日: | 2014-12-19 |
公开(公告)号: | CN104617069A | 公开(公告)日: | 2015-05-13 |
发明(设计)人: | 徐小锋 | 申请(专利权)人: | 南通富士通微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/485;H01L23/31 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 孟阿妮;郭栋梁 |
地址: | 226006 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及半导体圆片级封装结构,包括半导体芯片、再配线电极、再形成电极层、金属锡球和树脂层。其中:再配线电极形成于半导体芯片上;再形成电极层形成于再配线电极之上;金属锡球与再形成电极层焊接;树脂层包覆于金属锡球的周围,且树脂层的厚度小于金属锡球的高度。本发明的半导体圆片级封装结构,机械可靠性强,在受力不均匀时可减小整个封装结构失效的可能性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 圆片级 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体圆片级封装结构,包括半导体芯片、再配线电极、再形成电极层和金属锡球;其特征在于,还包括树脂层;其中:所述再配线电极形成于所述半导体芯片上;所述再形成电极层形成于所述再配线电极之上;所述金属锡球与所述再形成电极层焊接;所述树脂层包覆于所述金属锡球的周围,且所述树脂层的厚度小于所述金属锡球的高度。
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