[发明专利]留边波浪切高方阻铝金属化膜在审
申请号: | 201410800785.0 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN104465094A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 曹骏骅;吴平 | 申请(专利权)人: | 安徽赛福电子有限公司 |
主分类号: | H01G4/33 | 分类号: | H01G4/33;H01G4/015 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 244000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种留边波浪切高方阻铝金属化膜,包括绝缘质地的基膜和位于所述基膜上的金属镀层,所述金属镀层位于所述基膜的一侧,所述基膜的另一侧设置有留边,所述留边的边缘侧为波浪切边结构;所述金属镀层朝向所述留边的一侧为镀层厚度一致的高阻区,所述金属镀层背向所述留边的一侧为镀层厚度一致的低阻区,所述高阻区的镀层厚度小于所述低阻区的镀层厚度,且所述高阻区和所述低阻区之间设置有镀层厚度渐变的过渡区。本发明所述的留边波浪切高方阻铝金属化膜,改善了电容器制成品的耐压性能,高阻区可以适应大电流的冲击,并增强与喷金层的融接能力,使接触电阻下降到更低的可控范围。 | ||
搜索关键词: | 波浪 切高方阻铝 金属化 | ||
【主权项】:
留边波浪切高方阻铝金属化膜,其特征是,包括:绝缘质地的基膜(1)和位于所述基膜上的金属镀层,所述金属镀层位于所述基膜(1)的一侧,所述基膜(1)的另一侧设置有留边(11),所述留边(11)的边缘侧为波浪切边结构;所述金属镀层朝向所述留边(11)的一侧为镀层厚度一致的高阻区(21),所述金属镀层背向所述留边(11)的一侧为镀层厚度一致的低阻区(23),所述高阻区(21)的镀层厚度小于所述低阻区(23)的镀层厚度,且所述高阻区(21)和所述低阻区(23)之间设置有镀层厚度渐变的过渡区(22)。
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