[发明专利]测量分度和具有该测量分度的光电位置测量仪有效

专利信息
申请号: 201410810833.4 申请日: 2014-09-30
公开(公告)号: CN104567671B 公开(公告)日: 2019-02-15
发明(设计)人: J·韦德曼;P·施佩克巴赫;A·格雷厄姆 申请(专利权)人: 约翰内斯·海德汉博士有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐予红;刘春元
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明题为“测量分度和具有该测量分度的光电位置测量仪”。本发明定义用于在第一方向(X)和垂直于第一方向伸展的第二方向(Y)测量位置的光电位置测量仪的测量分度(1),其是可以特别容易地制造的,和通过所述测量分度能够精确地测量位置。测量分度(1)包括由在第一方向(X)和第二方向(Y)周期性地布设的光栅单元(2)构成的相栅。光栅单元(2)各自具有由线条形成的外部轮廓,所述线条包括两个相对的第一直边(K1)和两个垂直于所述第一直边伸展的相对的第二直边(K2)以及第一边(K1)与第二边(K2)之间的连接线(K3),所述连接线分别合围成钝角(α)。
搜索关键词: 分度 测量 光电位置测量 连接线 测量位置 光栅单元 伸展 线条 垂直 外部轮廓 布设 合围 钝角 直边 制造
【主权项】:
1.用于在第一方向(X)和垂直于第一方向伸展的第二方向(Y)测量位置的光电位置测量仪的测量分度,其包括具有在第一方向(X)和第二方向(Y)周期性地布设的光栅单元(2)的相栅,其特征在于,所述光栅单元(2)各自具有由线条形成的外部轮廓,所述线条包括两个相对的第一直边(K1)和两个垂直于所述第一直边伸展的相对的第二直边(K2)以及各个第一边(K1)与第二边(K2)之间的连接线(K3),其中所述第一边(K1)和所述连接线(K3)、以及所述第二边(K2)和所述连接线(K3)分别合围成钝角(α),光栅单元(2)分别由第一表面部分(F1)和第二表面部分(F2)组成,其中所述第一表面部分(F1)由凸出的反射面形成和所述第二表面部分(F2)是将所述外部轮廓包围的反射面,和其中凸出的反射面或将这个面包围的反射面具有所述的外部轮廓,以及光栅单元(2)第一表面部分(F1)和第二表面部分(F2)被选择使得反射相同的光强度。
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