[发明专利]基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统

摘要

本发明涉及一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，包括宽带光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂和探测臂，宽带光源发出的光经光纤耦合器分光后分别进入参考臂和样品臂，参考臂反射后的参考光按照原光路返回到光纤耦合器，同时样品臂的光通过光纤探头形成光子纳米喷射照明场，照明区域内经样品反射或后向散射的信号光再次通过光纤探头返回到光纤耦合器，样品臂返回的信号光与参考臂返回的参考光汇合并发生干涉；同时样品臂中扫描装置对样品进行扫描并将其扫描时序发送给探测臂中的计算机，探测臂对不同波长光的并行探测得到样品的深度信息。与现有技术相比，本发明具有超高的横向空间分辨率，利于OCT系统获得更大的应用范围。

主权项

一种基于光子纳米喷射的高横向分辨光学相干层析系统，其特征在于，包括宽带光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂和探测臂，所述的样品臂包括光纤探头和扫描装置，所述的探测臂包括计算机和光谱探测器，所述的宽带光源发出的光经光纤耦合器分光后，分别进入参考臂和样品臂，所述的参考臂反射后的参考光按照原光路返回到光纤耦合器，同时所述的样品臂的光通过光纤探头形成光子纳米喷射照明场，照明区域内经样品反射或后向散射的信号光再次通过光纤探头返回到光纤耦合器。样品臂返回的信号光与参考臂返回的参考光汇合并发生干涉，通过探测臂的光谱探测器获得与样品信息有关的干涉光谱；同时样品臂中扫描装置对样品进行扫描并将其扫描时序发送给探测臂中的计算机，探测臂在一个信息采集周期内对不同波长光的并行探测得到样品的深度信息，探测臂中计算机根据扫描时序和样品的深度信息重建出样品的二维图像。