[发明专利]一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法有效
申请号: | 201410816993.X | 申请日: | 2014-12-24 |
公开(公告)号: | CN104658917A | 公开(公告)日: | 2015-05-27 |
发明(设计)人: | 李红英;欧阳勋;赖永秋 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;B22F3/105;B33Y10/00;B33Y70/00 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人: | 颜勇 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及电子封装件的制备方法,特别涉及一种含高体积分数SiC金属基复合电子封装件的制备方法。本发明按质量比,粘接剂:SiC颗粒=1:3-5,配取粘接剂和SiC颗粒并混合均匀,得到SiC预制体备用料后,通过3D打印技术得到设定尺寸、形状的SiC坯体;接着采用低温多段烧结的方式得到SiC多孔预制体;然后进行金属熔液浸渗处理,得到成品。本发明可制备任意复杂形状的电子封装件,而且可高精度控制成型过程,能够精确控制SiC体积分数、孔隙率、预制体孔径和孔长,以此精确控制材料的力学性能和热物理性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 体积 分数 sic 金属 复合 电子 封装 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种含高体积分数SiC的金属基复合电子封装件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一按质量比,粘接剂:SiC颗粒=1:3‑5,配取粘接剂和SiC颗粒并混合均匀,得到SiC预制体备用料;所述SiC颗粒的粒径≤160μm;步骤二将步骤一所得SiC预制体备用料,装入3D打印设备中,通过3D打印,得到设定形状、尺寸的SiC坯体;步骤三将步骤二所得SiC坯体进行低温多段烧结,得到SiC多孔预制体;所述低温多段烧结的工艺参数为:先升温至220‑280℃,保温1‑2h后再升温至380‑420℃,保温1‑2h,然后再继续升温至480‑520℃,保温1‑2h,随炉冷却至室温;步骤四对步骤三所得SiC多孔预制体进行金属熔液浸渗处理,得到成品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中南大学;,未经中南大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410816993.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造