[发明专利]立体反光测量装置及方法在审
| 申请号： | 201410817240.0 | 申请日： | 2014-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN104597450A | 公开（公告）日： | 2015-05-06 |
| 发明（设计）人： | 黎奎奎;吴玲怡;陆春;王伟良;邢俊;杨申贤;严佳庆;季立群;何冈;陆健航 | 申请（专利权）人： | 上海建工集团股份有限公司;上海市机械施工集团有限公司;上海机场（集团）有限公司;上海国际机场股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/06 | 分类号： | G01S17/06;G01B11/16 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200120 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种立体反光测量装置及方法，该装置包括一个正棱锥体，正棱锥体的底面上设有粘结层，其余各面上分别设有反光材料层形成反射面，在各反射面上标记各反射面中心，粘结层上设有保护膜。该方法包括：撕开正棱锥体的底面上保护膜，通过粘结层将正棱锥体粘贴于被测物体上；根据全站仪与正棱锥体的位置关系，选择测量角度合适的反射面，瞄准该反射面中心，向该反射面中心发射激光并接收被该反射面反射回来的激光，以测量该反射面中心的三维坐标。其可能在任意位置选择合适的反射面进行测量，解决因测量角度过大或过小以及不适宜安装棱镜而导致无法测量的问题，实现狭长地带快速准确测量，并可无需经过安装调试直接快速方便地粘贴于被测物体上。 | ||
| 搜索关键词： | 立体 反光 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种立体反光测量装置，其特征在于，包括一个正棱锥体，所述正棱锥体的底面上设有粘结层，其余各面上分别设有反光材料层形成反射面，在各所述反射面上分别标记各反射面中心，所述粘结层上设有保护膜。
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