[发明专利]一种测试系统及使用其的显示装置

摘要

本发明提供一种测试系统，包括微控制信号源、现场可编程门阵列。微控制信号源输出微控制信号。现场可编程门阵列包括第一电源引脚、第一接口模块、第二电源引脚、存储控制单元、第二接口模块。第一电源引脚接收第一参考电压。第一接口模块用于输出微控制信号。第二电源引脚接收第二电压源输出的第二参考电压。存储控制单元接收电压值与第一参考电压相同的微控制信号，并将微控制信号的电压值由第一参考电压转换为第二参考电压。第二接口模块输出电压值与第二参考电压相同的微控制信号至驱动模块。第一参考电压大于第二参考电压。本发明还提供一种显示装置。本发明的测试系统及显示装置利用现场可编程门阵列进行电压转换，提高了测试效率。

主权项

一种测试系统，用于对显示器进行测试，所述显示器包括驱动模块，其特征在于，所述测试系统包括：微控制信号源，与第一电压源相连，以接收所述第一电压源输出的第一参考电压，所述微控制信号源用于输出电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号；及现场可编程门阵列，所述现场可编程门阵列包括：第一电源引脚，接收所述第一参考电压；第一接口模块，与所述微控制信号源及所述第一电压源引脚相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将该微控制信号输出至存储控制单元；第二电源引脚，与第二电压源连通，以接收所述第二电压源输出的第二参考电压；存储控制单元，与所述第一接口模块相连，用于接收所述电压值与所述第一参考电压相同的微控制信号，并将通过所述第一接口模块接收的微控制信号的电压值由所述第一参考电压转换为所述第二参考电压；及第二接口模块，与所述存储控制单元、所述第二电源引脚及所述驱动模块相连，用于输出所述电压值与所述第二参考电压相同的微控制信号至所述驱动模块。其中，所述第一参考电压大于所述第二参考电压。