[发明专利]X射线装置有效
| 申请号： | 201410833194.3 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN104777179B | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | D·贝克尔斯;S·普鲁戈维奇 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 吴信刚 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线装置。一种X射线衍射装置包括平坦分级多层结构(8)，该平坦分级多层结构(8)可用在用于样本(6)的SAXS配置中。该装置可以通过准直器(16)调整以适用于Bragg‑Brentano测量，而不需要多个替换的束路径或复杂的结构。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线衍射装置，包括：具有焦点的X射线源；样本台；焦点与样本台之间的平坦分级多层结构，用于将X射线从焦点引导到样本台上；以及X射线检测器，用于检测来自安装在样本台上的样本的X射线；还包括位于X射线源与样本台之间的准直器，其中准直器能够调节为用于Bragg‑Brentano几何结构测量的大有效孔径和用于SAXS测量的窄有效孔径，其中所述大有效孔径至少为0.1°并且所述窄有效孔径不大于0.07°。
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