[发明专利]双站底部测试分光机

摘要

本发明提供了一种双站底部测试分光机，包括：振动盘、抓料机构、第一定位机构、第一底部测试机构、第二定位机构、第二底部测试机构、分度盘机构、吹料机构；振动盘将物料输送至平轨定位处，然后抓料机构将物料通过其吸嘴抓取后，放入分度盘机构的入料口；分度盘机构转动从而将物料运送至第一定位机构处，第一定位机构将物料定位后，由第一底部测试机构对物料进行第一站测试，然后由分度盘机构将物料运送至第二定位机构处，由第二底部测试机构对物料进行第二站测试，最后，由分度盘机构将物料运动至吹料机构处，吹料机构将物料吹入下料软管中。由于采用了上述结构，本发明具有结构简单、成本低、可进行两站测试的特点。

主权项

一种双站底部测试分光机，其特征在于，包括：振动盘(1)、抓料机构(2)、第一定位机构(3)、第一底部测试机构(4)、第二定位机构(5)、第二底部测试机构(6)、分度盘机构(7)、吹料机构(8)等；所述振动盘(1)将物料输送至平轨定位处，然后所述抓料机构(2)将所述物料通过其吸嘴抓取后，放入所述分度盘机构(7)的入料口；所述分度盘机构(7)转动从而将所述物料运送至所述第一定位机构(3)处，所述第一定位机构(3)将所述物料定位后，由所述第一底部测试机构(4)对所述物料进行第一站测试，然后由所述分度盘机构(7)将所述物料运送至所述第二定位机构(5)处，由所述第二底部测试机构(6)对所述物料进行第二站测试，最后，由所述分度盘机构(7)将所述物料运动至所述吹料机构(8)处，所述吹料机构(8)将所述物料吹入下料软管中。