[发明专利]一种滤波装置和方法及一种物质探测装置和方法在审

专利信息
申请号: 201410854084.5 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104535592A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 陈志强;张丽;赵自然;刘耀红;刘必成;顾建平;郑娟 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种滤波装置和方法及一种物质探测装置和方法,所述滤波装置包括双能射线源,所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线;滤波片,位于所述双能射线源的射线出射处,由高Z材料制成,用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波。本发明能够通过对不同能量的x射线采用同样的高原子序数的滤波片,显著减少检测能谱中的低能成分,实现更大可分性系数的物质探测方式,从而获得更优越的系统分类检测性能。
搜索关键词: 一种 滤波 装置 方法 物质 探测
【主权项】:
一种滤波装置,其特征在于,所述装置包括:双能射线源,所述双能射线源用于发射高能射线和低能射线;滤波片,位于所述双能射线源的射线出射处,由高Z材料制成,用于对出射的高能射线和低能射线进行滤波。
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