[发明专利]半导体器件、半导体封装体以及用于制造半导体器件的方法有效
申请号: | 201410854553.3 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN105895589B | 公开(公告)日: | 2019-01-08 |
发明(设计)人: | 栾竟恩 | 申请(专利权)人: | 意法半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/13 | 分类号: | H01L23/13;H01L23/31;H01L21/77 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 本公开的实施方式提供了一种半导体器件、半导体封装体以及用于制造半导体器件的方法。该半导体器件包括:半导体裸片;硬质隔离层,形成于所述半导体裸片的表面上;衬底;以及非导电粘接层,位于所述硬质隔离层与所述衬底之间,以用于将所述硬质隔离层粘接至所述衬底。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 半导体 封装 以及 用于 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:半导体裸片;硬质隔离层,形成于所述半导体裸片的表面上;衬底;以及非导电粘接层,位于所述硬质隔离层与所述衬底之间,以用于将所述硬质隔离层粘接至所述衬底,其中所述半导体裸片包括接合焊盘,所述接合焊盘位于所述半导体裸片的与所述表面相对的另一表面处,所述半导体器件还包括引线,所述引线通过焊线连接至所述接合焊盘。
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