[实用新型]一种配对晶体电光Q开关的测试支架

摘要

本实用新型提出一种配对晶体电光Q开关的测试支架，解决了现有技术中由于电光Q开关封装简单、电极外露而引起对测试人员安全性差的问题，一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关，所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处，所述支架本体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔，紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极，测试支架内部中空，电光Q开关放置在支架内部，这种四周封闭设计，避免了在测试、调节的过程中，测试人员与裸露电极的误接触，导线由圆孔引出，放入导线插孔内，并固定，避免了在调节过程中，由于导线不固定引起的晃动、接触导致的短路。

主权项

一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，其特征在于： 所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关， 所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处， 所述支架本体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔， 紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极。