[实用新型]光强度测量装置有效
| 申请号： | 201420070546.X | 申请日： | 2014-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN203719765U | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 费维和 | 申请（专利权）人： | 施耐德电气工业公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国马*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本实用新型的实施方式提供一种光强度测量装置，其特征在于包括至少一个光强度测量集成芯片，该光强度测量集成芯片在其上具有光学感应区，该光学感应区用于接收待测光线；其中，该光强度测量集成芯片被配置为将在该光学感应区接收的光的强度转化成电压信号的数字量，并输出该电压信号的数字量。 | ||
| 搜索关键词： | 强度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光强度测量装置，其特征在于包括： 至少一个光强度测量集成芯片，所述光强度测量集成芯片在其上具有光学感应区，所述光学感应区用于接收待测光线； 其中，所述光强度测量集成芯片被配置为将在所述光学感应区接收的光的强度转化成电压信号的数字量，并输出所述电压信号的数字量。
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