[实用新型]一种适用于芯片测试的电路有效
| 申请号： | 201420148756.6 | 申请日： | 2014-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN203800923U | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李晓骏 | 申请（专利权）人： | 西安华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | H03M9/00 | 分类号： | H03M9/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 胡乐 |
| 地址： | 710055 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种适用于芯片测试的电路，该电路主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。本实用新型采用测试焊盘取代传统的熔丝电路，可以通过外接探针扎到测试焊盘输入不同的信号，只使用1个测试焊盘，便实现了现有技术中n位熔丝电路的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种适用于芯片测试的电路，其特征在于：主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。
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