[实用新型]一种用于半导体封装的划片有效

专利信息
申请号: 201420150587.X 申请日: 2014-03-31
公开(公告)号: CN203774284U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 陈林;朱仕镇;韩壮勇;郑天凤;朱文锋;任书克;刘志华;曹丙平;王鹏飞;周贝贝;张团结;朱海涛;吕小奖 申请(专利权)人: 深圳市三联盛半导体有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种用于半导体封装的划片,在晶圆的划片街区内贴附有薄膜,该薄膜宽度小于划片街区,且与芯片边缘的密封圈不重叠,同时,该划片街区内还设有至少一个通孔。该薄膜降低正面崩角和背面崩角的出现率,且防止晶圆切割时正面崩角和背面崩角进入芯片边缘的密封圈。该薄膜可贯通整个划片街区,也可与芯片的宽度相同。通孔的设置,可进一步方便切割晶圆。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 封装 划片
【主权项】:
一种用于半导体封装的划片,其特征在于:在晶圆的划片街区内贴附有薄膜,该薄膜宽度小于划片街区,且与芯片边缘的密封圈不重叠,同时,该划片街区内还设有至少一个通孔。
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