[实用新型]一种光学综合实验系统有效

专利信息
申请号: 201420164591.1 申请日: 2014-04-04
公开(公告)号: CN203746319U 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 沈涛;胡超;熊燕玲;刘乂溥;战梦雪 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G09B23/22 分类号: G09B23/22
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种光学综合实验系统,涉及大学教学实验仪器领域。它是为了解决在光学实验时,几何光学类实验装置和物理波动光学类实验装置需要相互替换,导致操作复杂,延长实验时间和效率的问题。本实用新型包括第一底座、第二底座、第三底座、第四底座、第五底座、第一支杆、第二支杆、第三支杆、第一套杆、第二套杆、第一固定旋钮、第二固定旋钮、第一伸缩杆、第二伸缩杆、光源、CCD探头、显示屏、第一元件测试固定装置、第二元件测试固定装置、导轨、第一紧固螺钉和第二紧固螺钉。本实用新型适用于大学教学实验仪器领域。
搜索关键词: 一种 光学 综合 实验 系统
【主权项】:
一种光学综合实验系统,其特征在于:它包括第一底座(1‑1)、第二底座(1‑2)、第三底座(1‑3)、第四底座(1‑4)、第五底座(1‑5)、第一支杆(2‑1)、第二支杆(2‑2)、第三支杆(2‑3)、第一套杆(3‑1)、第二套杆(3‑2)、第一固定旋钮(4‑1)、第二固定旋钮(4‑2)、第一伸缩杆(5‑1)、第二伸缩杆(5‑2)、光源(6)、CCD探头(7)、显示屏(8)、第一元件测试固定装置(9‑1)、第二元件测试固定装置(9‑2)、导轨(13)、第一紧固螺钉(14‑1)和第二紧固螺钉(14‑2);第一底座(1‑1)、第二底座(1‑2)、第三底座(1‑3)、第四底座(1‑4)和第五底座(1‑5)均设置在导轨(13)上,且每个底座均与导轨(13)滑动连接,第一支杆(2‑1)的一端固定在第一底座(1‑1)上,第一支杆(2‑1)的另一端固定有光源(6);第一套杆(3‑1)的一端固定在第二底座(1‑2)上,第一伸缩杆(5‑1)的一端插入并固定在第一套杆(3‑1)内,第一伸缩杆(5‑1)的另一端固定有第一元件测试固定装置(9‑1),所述第一元件测试固定装置(9‑1)的上部设置有第一夹具圆孔(10‑1),光学元件通过第一紧固螺钉(14‑1)固定在第一夹具圆孔(10‑1)内,第一元件测试固定装置(9‑1)的下部设置有双狭缝(11),第一套杆(3‑1)的外部设置有第一固定旋钮(4‑1);第二套杆(3‑2)的一端固定在第三底座(1‑3)上,第二伸缩杆(5‑2)的一端插入并固定在第二套杆(3‑2)内,第二伸缩杆(5‑2)的另一端固定有第二元件测试固定装置(9‑2),所述第二元件测试固定装置(9‑2)的上部设置有第二夹具圆孔(10‑2),光学元件通过第二紧固螺钉(14‑2)固定在第二夹具圆孔(10‑2)内,第二元件测试固定装置(9‑2)的下部设置有单狭缝(12),第二套杆(3‑2)的外部设置有第二固定旋钮(4‑2);第二支杆(2‑2)的一端固定在第四底座(1‑4)上,第二支杆(2‑2)的另一端固定有CCD探头(7);第三支杆(2‑3)的一端固定在第五底座(1‑5)上,第三支杆(2‑3)的另一端固定有显示屏(8)。
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