[实用新型]一种光学元件涂墨检测装置有效
申请号: | 201420174686.1 | 申请日: | 2014-04-11 |
公开(公告)号: | CN203772756U | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 杨文辉;沈乾勇 | 申请(专利权)人: | 大英彰骏光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/06 |
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地址: | 629300 四川省遂宁*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种光学元件涂墨检测装置,其特征在于:本装置包括一个箱体和检测幕,所述箱体内设有提供检测光的光源、滤光器、避光室、图像放大装置,所述箱体在光学元件夹具上方设有放样口,所述避光室在所述光学元件夹具上方设有取样口,所述滤光器位于所述光源与所述避光室之间,固定在所述避光室左侧,放大拆卸装置把所述图像放大装置固定在避光室的右侧,所述检测幕设置在所述箱体的右侧,所述检测幕有测量刻度。本实用新型能检测判定涂墨质量,检测装置简单,易于制造,具有很高的实用价值和推广价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 元件 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种光学元件涂墨检测装置,待检光学元件包括光学元件和涂墨,其特征在于:本装置包括一个箱体和检测幕,所述箱体内设有提供检测光的光源、滤光器、避光室、图像放大装置,所述箱体在光学元件夹具上方设有放样口,所述避光室在所述光学元件夹具上方设有取样口,所述滤光器位于所述光源与所述避光室之间,固定在所述避光室左侧,放大拆卸装置把所述图像放大装置固定在避光室的右侧,所述检测幕位于所述箱体的右侧,所述检测幕设有测量刻度。
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