[实用新型]一种透明光学元件表面质量的检测装置

摘要

本实用新型提供了一种透明光学元件表面质量的检测装置，属于光学元件检测设备技术领域。它解决了针对7mm以下的透明光学元件的表面检测工作没有专业的检测设备等技术问题。本检测装置包括机架、托板和检测转盘，托板设置在机架上且托板和机架之间设有使托板沿X轴和Y轴移动的两轴驱动机构，检测转盘固定在托板的上方且两者沿该检测转盘的周向能够相对转动，托板上设有能够驱动检测转盘转动的旋转机构，检测转盘上具有两个对称分布在该检测转盘旋转中心两侧的检测工位，还设有对应的检测相机、光源一和光源二，检测相机、光源一和光源二均固定在机架上。本装置利用两轴驱动机构能够自动实现X轴或Y轴的移动，实现自动化的移位，提高检测效率。

主权项

一种透明光学元件表面质量的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括机架(1)、托板(2)和检测转盘(3)，所述托板(2)设置在机架(1)上，且所述托板(2)和机架(1)之间设有能使托板(2)沿X轴和Y轴移动的两轴驱动机构(4)，所述检测转盘(3)固定在托板(2)的上方且两者沿该检测转盘(3)的周向能够相对转动，所述托板(2)上设有能够驱动所述检测转盘(3)转动的旋转机构(5)，所述检测转盘(3)上具有两个对称分布在该检测转盘(3)旋转中心两侧的检测工位(6)，每个检测工位(6)均能够放置多个透明光学元件，每个检测工位(6)的上方均设有一个对应的检测相机(7)，其中一个检测工位(6)的上方设有对应的光源一(8)，另一个检测工位(6)的下方设有对应的光源二(9)，所述检测相机(7)、光源一(8)和光源二(9)均固定在所述机架(1)上。