[实用新型]一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置有效
| 申请号： | 201420229893.2 | 申请日： | 2014-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN203934094U | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 方亮;闫转芳;阮友亮;孙甲鹏;孙琨 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | H05K1/02 | 分类号： | H05K1/02;H05K7/20;G01R31/26 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 陆万寿 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，包括一面带有若干散热片的PCB板，PCB板与用于固定PCB板的支撑支架相连。本实用新型结构简单，能大大降低大功率芯片在老化试验过程中的温度，确保了芯片老化试验温度标定的准确度与实验数据的可靠性，而且随着芯片功率增加，芯片结温与环境温度的差值也随之变小。同时还可以通过支撑支架将结构竖起来放置，大大的节省空间，让同一个试验箱中容纳更多的芯片老化装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 良好 散热 性能 led 芯片 老化 试验装置 | ||
【主权项】：
一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：包括一面带有若干散热片的PCB板(1)，PCB板(1)与用于固定PCB板的支撑支架(4)相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学，未经西安交通大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420229893.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于元器件的散热结构
- 下一篇：一种用于氙气放电光源的分体式触发器
