[实用新型]芯片卷带检测机构

摘要

本实用新型公开一种芯片卷带检测机构，包含一座体、一输送装置、一卷带送料单元及一卷带收料单元，所述卷带送料单元包含一送料盘及一送料侦测器，所述送料侦测器用以侦测所述芯片卷带自所述送料盘垂降的高度，所述卷带收料单元包含一收料盘及一收料侦测器，所述收料侦测器用以侦测所述芯片卷带自所述输送装置垂降的高度。利用所述送料侦测器及收料侦测器分别侦测所述芯片卷带于送料及收料的长度，可避免所述芯片卷带于送料及收料的长度过长或过短而产生所述芯片卷带推挤或卡料的问题。

主权项

一种芯片卷带检测机构，用以检测一芯片卷带，其特征在于：所述检测机构包含：一座体；一输送装置，设置在所述座体上，用以输送所述芯片卷带；一卷带送料单元，设置在所述输送装置的一侧，所述卷带送料单元包含一送料盘，用以供所述芯片卷带卷绕；及一送料侦测器，设置在所述输送装置下方且用以侦测所述芯片卷带自所述送料盘垂降的高度；及一卷带收料单元，设置在所述输送装置的另一侧，所述卷带收料单元包含：一收料盘，用以供所述芯片卷带卷绕；及一收料侦测器，设置在所述输送装置下方且用以侦测所述芯片卷带自所述输送装置垂降的高度。