[实用新型]一种晶圆扫描映射成像系统有效
申请号: | 201420358194.8 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN203950789U | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 厉心宇 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 吴世华;林彦之 |
地址: | 201210 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种晶圆扫描映射成像系统,包括承载工作台和若干枚晶圆;所述承载工作台上放置若干枚水平层叠的晶圆,且相邻的晶圆之间形成有既定间距,此外,在层叠晶圆一侧横向方向上依次设有光源以及凹透镜,在所述层叠晶圆另一侧横向方向上依次设有凸透镜、CCD图像传感器以及数据分析模块。本实用新型承载工作台和扫描系统均无需移动,即可获取晶圆的位置信息,改变了传统的检测方式,避免了晶圆的振动,可以减少因承载工作台或扫描系统因运动带来的损耗,同时整体扫描晶圆的方式更省时,可提高机台的生产效率以及扫描的精确性,对操作人员的人身也没有伤害。 | ||
搜索关键词: | 一种 圆扫描 映射 成像 系统 | ||
【主权项】:
一种晶圆扫描映射成像系统,包括承载工作台和若干枚晶圆;所述承载工作台上放置若干枚水平层叠的晶圆,且相邻的晶圆之间形成有既定间距,其特征在于,还包括:在层叠晶圆一侧横向方向上依次设有光源以及凹透镜,在所述层叠晶圆另一侧横向方向上依次设有凸透镜、CCD图像传感器以及数据分析模块;所述光源、凹透镜、凸透镜、CCD图像传感器以及数据分析模块均位于所述层叠晶圆整体高度的水平中心线上;其中,当所述光源发出光束,所述凹透镜收集并放大光束以覆盖所述层叠晶圆并形成晶圆阴影图像,所述凸透镜将晶圆阴影图像集中映射至所述CCD图像传感器并由所述CCD图像传感器转化为信号电荷,所述数据分析模块接收信号电荷并分析出晶圆的位置信息;其位置信息包括晶圆的有无、晶圆的直径、晶圆的数量或晶圆之间的间距。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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