[实用新型]测量电路板表面高度差的检具有效
申请号: | 201420432592.X | 申请日: | 2014-08-01 |
公开(公告)号: | CN204085379U | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 张志强;谢添华;李志东 | 申请(专利权)人: | 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/28;G01B5/30 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 李海恬 |
地址: | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测量电路板表面高度差的检具,属于电路板检测技术领域。该检具,包括:支架,包括底座、支杆、调节杆和水平杆,所述支杆安装于底座上,所述调节杆一端可转动式连接支杆,另一端可转动式连接水平杆;以及千分表,固定于水平杆上,且该千分表的测量杆与水平杆保持垂直。采用该检具,既可测量电路板的共面性,又可测量电路板细微翘曲的最大垂直位移高度。具有操作简单、使用方便,仪器成本较低,测量数据可靠的优点,能够广泛适应于各种电路板的“共面性或细微翘曲”常规性检测、品质管控中。 | ||
搜索关键词: | 测量 电路板 表面 高度 | ||
【主权项】:
一种测量电路板表面高度差的检具,其特征在于,包括:支架,包括底座、支杆、调节杆和水平杆,所述支杆安装于底座上,所述调节杆一端可转动式连接支杆,另一端可转动式连接水平杆;以及千分表,固定于水平杆上,且该千分表的测量杆与水平杆保持垂直。
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