[实用新型]微型光学扫描测距装置、系统及光学测距系统有效
| 申请号： | 201420460856.2 | 申请日： | 2014-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN204240979U | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | 陈士凯;刘义春;李宇翔;黄珏珅;林凌 | 申请（专利权）人： | 上海思岚科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C3/10 | 分类号： | G01C3/10 |
| 代理公司： | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人： | 马育麟 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种微型光学扫描测距装置、系统及光学测距系统，包括固定于装置底座，且由一成像透镜、一准直光源以及一感光芯片和一处理电路构成的一小基线光学测距系统，实现非接触式的高精度测距；还包括安装于所述测距系统上方的一可连续旋转的反光镜片，接收所述准直光源发射的准直光束，其中，测距模块中光源发出的准直光束始终保持与镜片旋转中轴线平行，实现扫描测距并在纵向范围上增加测距的视角范围，以及用于测量所述反光镜片方位角的一编码器，用于获取测距光束的角度信息。相比于现有设计，该光学扫描测距装置具有更小的体积以及更轻的重量，成本低，无需测距电子设备进行旋转，大幅提高设备的可靠性和工作寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 光学 扫描 测距 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种微型光学扫描测距装置，其特征在于，包括：一底座；一小基线光学测距系统，安装于所述底座；一扫描模块，其包括一转盘和倾斜地连接于所述转盘的一反光镜片，其中所述反光镜片位于所述光学测距系统的上方，所述转盘可转动地连接于所述底座；和一数据处理模块，连接于所述转盘和所述底座，计量所述反光镜片旋转的角度信息。
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