[实用新型]LED芯片通断测试装置有效
| 申请号： | 201420496945.2 | 申请日： | 2014-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN204044283U | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 卢少鹏 | 申请（专利权）人： | 深圳市光能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片测试装置，特别是涉及一种LED芯片通断测试装置。PCB板上布局设计好的导电图形，在PCB板上设置多个贯穿的排针孔，所述LED芯片测试装置包括一工作台和一控制台，工作台位于控制台之上，工作台包括一固定的基板和一可上下移动的移动板，该PCB板放置在该基板上，该移动板上插入多个顶针，该顶针的数量和位置与放置在基板上的PCB板上的排针孔一一对应。本实用新型可对LED芯片进行批量测试，大大提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | led 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种LED芯片通断测试装置，用于对放置在PCB板上的LED芯片的通断进行批量测试，其特征在于：PCB板上布局设计好的导电图形，在PCB板上设置多个贯穿的排针孔，所述LED芯片测试装置包括一工作台和一控制台，工作台位于控制台之上，工作台包括一固定的基板和一可上下移动的移动板，该PCB板放置在该基板上，该移动板上插入多个顶针，该顶针的数量和位置与放置在基板上的PCB板上的排针孔一一对应。
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