[实用新型]一种激光加工扫描光学系统有效
| 申请号： | 201420509563.9 | 申请日： | 2014-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN204075510U | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 赵建涛;肖磊;杨锦彬 | 申请（专利权）人： | 深圳市大族激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/064 | 分类号： | B23K26/064;B23K26/082 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 杨晖琼 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及激光加工技术领域，公开了一种激光加工扫描光学系统，该光学系统包括光探测器件组件、激光发射源、透镜组件、第一45°反射镜片、第二45°反射镜片和扫描振镜头组件；激光发射源用于发出半导体激光束，该半导体激光束依次经过第一45°反射镜片、透镜组件、第二45°反射镜片和扫描振镜头组件后，作用在待加工材料上，并反射形成成像光束，同时由外部进来的材料加工激光束，透过第二45°反射镜片，并经过扫描振镜头组件后，也作用在待加工材料上，对材料进行激光精密加工；本实用新型能够实现更换不同焦距的激光扫描镜头后，扫描光学系统仍然可以实现自动寻焦，并能够保持待加工材料一直位于扫描镜头的焦平面上。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 加工 扫描 光学系统 | ||
【主权项】：
一种激光加工扫描光学系统，其特征在于：该光学系统包括光探测器件组件、激光发射源、透镜组件、第一45°反射镜片(4)、第二45°反射镜片(9)和扫描振镜头组件； 所述激光发射源用于发出半导体激光束(22)，该半导体激光束(22)依次经过第一45°反射镜片(4)、透镜组件、第二45°反射镜片(9)和扫描振镜头组件后，作用在待加工材料(26)上，并反射形成成像光束(21)，该成像光束(21)反应待加工材料(26)表面的图像；同时还包括由外部进来的材料加工激光束(23)，透过第二45°反射镜片(9)，并经过扫描振镜头组件后，也作用在待加工材料(26)上； 所述成像光束(21)透过扫描振镜头组件，由第二45°反射镜片(9)反射，并经过透镜组件，到达光探测器件组件，光探测器件组件接收成像光束(21)。
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