[实用新型]防止样品静电损伤的装置有效
| 申请号： | 201420516477.0 | 申请日： | 2014-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN204167314U | 公开（公告）日： | 2015-02-18 |
| 发明（设计）人： | 于奎龙;朱熙 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/60 | 分类号： | H01L23/60 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及到半导体集成电路领域，尤其涉及一种防止样品静电损伤的装置，通过在一壳体中设有若干均匀并排的插槽，每个插槽内均具有针脚，所有针脚均通过一金属线进行短接；将一具有针脚的待测样品插入该装置的插槽中进行测试分析时，因该装置中所有的针脚短接，静电电荷会均匀的分布，待测样品中不同针脚的电势相同，因此一定程度上避免了静电放电对待测样品的损伤；并且当进行多种测试分析时亦可以实时静电防护，同时提高测试分析的效率，节约测试分析的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 防止 样品 静电 损伤 装置 | ||
【主权项】：
一种防止样品静电损伤的装置，其特征在于，所述装置包括：一壳体，所述壳体顶部设有两列若干均匀并排的插槽，且各列插槽均与另一列插槽一一对应的在同一直线上重合；各所述插槽内均对应设置有一针脚；一金属导线，设于所述壳体内，所述金属导线用于短接所述针脚。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉新芯集成电路制造有限公司，未经武汉新芯集成电路制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201420516477.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种具有高维持电压的IGBT结构的ESD保护器件
- 下一篇：引线框架电路
