[实用新型]多工位自动定位测试插座有效

专利信息
申请号: 201420521110.8 申请日: 2014-09-11
公开(公告)号: CN204177830U 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 孙鸿斐;贺涛 申请(专利权)人: 法特迪精密科技(苏州)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 张欢勇
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种多工位自动定位测试插座;包括一测试座,所述测试座内设有若干测试位,还包括一测试盖;所述测试座内设有调整测试位大小的侧压装置;所述测试盖与侧压装置相互配合将芯片固定在测试位内测试盖会推动侧压装置向测试位发生相对移动,通过调整测试位空间的大小,使得在上限尺寸或者下限尺寸的芯片都能够在腔体内得到精准固定。同时测试盖还可以从顶部对待测芯片进行固定,待测芯片经过侧边的挤压和顶部的下部,解决了待测芯片在测试时可能会发生的晃动或者偏移的问题。本实用新型结构简单,使用方便,能够对芯片进行量产化测试。
搜索关键词: 多工位 自动 定位 测试 插座
【主权项】:
一种多工位自动定位测试插座;包括一测试座(1),所述测试座(1)内设有若干测试位(11);其特征在于:所述测试座(1)内设有调整测试位(11)大小的侧压装置(3);还包括一测试盖(2);所述测试盖(2)内设有推压装置;所述测试盖(2)的推压装置与测试座(1)的侧压装置(3)相互配合。
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