[实用新型]一种测试探针压力调整装置有效
申请号: | 201420557627.2 | 申请日: | 2014-09-26 |
公开(公告)号: | CN204116980U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 黄俊华;谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
主分类号: | G05D15/01 | 分类号: | G05D15/01;G01R31/28;G01R1/067 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 汪琳琳 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及传感器技术领域,公开了一种测试探针压力调整装置。该压力调整装置实时探测测试探针的位移量并转化为电流量,传感器工作及模拟电压输出电路接收来自光电探测传感器输出的电流量,并将其转化成模拟电压,输出给模拟电压比较模块;模拟电压比较模块对分别接收到的模拟电压进行比对,生成高或低的IO电平信号,输出给微处理器;模拟电压比较模块还将所述IO电平信号输出给显示电路进行显示;微处理器根据所述IO电平信号和生成的数字信号,得到测试探针的工作压力;若所述测试探针的工作压力产生变化,实时调整测试探针的工作压力使其与事先存储包含压力的参数指令相同。本实用新型实时监测测试探针的压力变化,并能够自动调节其压力。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 探针 压力 调整 装置 | ||
【主权项】:
一种测试探针压力调整装置,其特征在于:该压力调整装置包括光电探测传感器(1)、传感器工作及模拟电压输出电路(2)、微处理器(3)、数模转换模块(4)、模拟电压比较模块(5)、显示电路(6)和上位机(9);所述光电探测传感器(1)实时探测测试探针(8)的位移量,并将所述位移量转化为电流量,根据光电探测传感器(1)的电流量推算得到测试探针(8)的压力;所述传感器工作及模拟电压输出电路(2)接收来自光电探测传感器(1)输出的电流量,并将其转化成模拟电压,输出给模拟电压比较模块(5);所述上位机(9)将设置或修改测试探针(8)压力的参数指令下发给微处理器(3);所述微处理器(3)存储来自上位机(9)的参数指令,并生成数字信号输出给数模转换模块(4);所述数模转换模块(4)将接收到的数字信号转换成参考模拟电压信号,并输出给模拟电压比较模块(5);所述模拟电压比较模块(5)对分别来自传感器工作及模拟电压输出电路(2)和数模转换模块(4)输出的模拟电压进行比对,生成高或低的IO电平信号,输出给微处理器(3);模拟电压比较模块(5)还将所述IO电平信号输出给显示电路(6)进行显示;微处理器(3)根据所述IO电平信号和生成的数字信号,得到测试探针(8)的工作压力;若所述测试探针(8)的工作压力与微处理器(3)存储包含压力的参数指令不同时,则微处理器(3)重新生成数字控制信号,调整数模转换模块(4)输出的参考模拟电压信号,进而调整测试探针(8)的工作压力;若所述测试探针(8)的工作压力达到微处理器(3)存储包含压力的参数指令时,则微处理器(3)输出IO控制信号,通过外部运动控制系统控制测试探针(8)停止下针运动。
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