[实用新型]一种TFT基板玻璃A型架检验装置有效

专利信息
申请号: 201420575871.1 申请日: 2014-09-30
公开(公告)号: CN204202531U 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 李桂玲 申请(专利权)人: 彩虹显示器件股份有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/24
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 712021*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型公开了一种TFT基板玻璃A型架检验装置,目的在于:能够一体化、多规格测量A型架尺寸,保证测量准确度,提高测量效率,快速判断A型架是否可以使用,所采用的技术方案为:包括底部检测装置和放置部位检测装置,底部检测装置包括相互垂直设置的第一测量杆和第二测量杆,第一测量杆和第二测量杆的空腔内分别设置有第一测量尺和第二测量尺,所述的放置部位检测装置包括相互转动连接的放置面测量杆和背部测量杆,以及用于测量底部高度的测量尺,放置面测量杆和背部测量杆为中空结构,空腔内分别设置有能够抽拉移动的放置面刻度尺和背部刻度尺。
搜索关键词: 一种 tft 玻璃 检验 装置
【主权项】:
一种TFT基板玻璃A型架检验装置,其特征在于:包括底部检测装置和放置部位检测装置,底部检测装置包括相互垂直设置的第一测量杆(1)和第二测量杆(2),第一测量杆(1)和第二测量杆(2)的形成L形测量架,第一测量杆(1)和第二测量杆(2)均为中空结构,第一测量杆(1)和第二测量杆(2)的空腔内分别设置有第一测量尺(3)和第二测量尺(4),第一测量尺(3)和第二测量尺(4)能够分别在第一测量杆(1)和第二测量杆(2)的空腔中抽拉移动,第一测量尺(3)和第二测量尺(4)的中心线分别与第一测量杆(1)和第二测量杆(2)的中心线重合,第一测量杆(1)和第二测量杆(2)上的刻度的零点均为两者相交内侧的拐角点处,第一测量尺(3)和第二测量尺(4)的零点均位于两者的最外端;所述的放置部位检测装置包括相互转动连接的放置面测量杆(6)和背部测量杆(7),以及用于测量底部高度的测量尺(12),放置面测量杆(6)和背部测量杆(7)为中空结构,空腔内分别设置有能够抽拉移动的放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9),放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)的中心线分别与放置面测量杆(6)和背部测量杆(7)的中心线重合,放置面测量杆(6)和背部测量杆(7)的刻度零点均从连接的最底端开始,放置面刻度尺(8)和背部刻度尺(9)的零点均位于两者的最外端,所述的放置面测量杆(6)和背部测量杆(7)上均设置有角度测量规(11),用于测量A型架放置面和背面的角度。
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