[实用新型]电子天平内校机构有效
申请号: | 201420618908.4 | 申请日: | 2014-10-23 |
公开(公告)号: | CN204115853U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 潘健;胡多传;叶忠伟 | 申请(专利权)人: | 奥豪斯仪器(常州)有限公司 |
主分类号: | G01G23/01 | 分类号: | G01G23/01 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 喻学兵 |
地址: | 213125 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种可以靠人工操作完成内校的电子天平内校机构。其特点是,包括:具有斜面的水平移动件,设置成在水平方向移动;包括至少一个内校砝码的砝码组件;传感器,通过传感器托架来承载砝码组件;导向组件;以及上下移动件,与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动,具有与所述斜面配合的凸出结构;其中,内校砝码压在传感器托架,以使传感器受力,从而该内校机构处于内校验状态;水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触,进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动,并且上下移动件能移动至砝码组件,把砝码组件带动,进而使砝码组件从传感器托架上脱开,进而使该内校机构处于非内校状态。 | ||
搜索关键词: | 电子天平 机构 | ||
【主权项】:
电子天平内校机构,其特征在于,包括具有斜面的水平移动件,设置成在水平方向移动;包括至少一个内校砝码的砝码组件;传感器,通过传感器托架来承载砝码组件;导向组件;以及上下移动件,与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动,具有与所述斜面配合的凸出结构;其中,内校砝码压在传感器托架,以使传感器受力,从而该内校机构处于内校验状态;水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触,进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动,并且上下移动件能移动至砝码组件,把砝码组件带动,进而使砝码组件从传感器托架上脱开,进而使该内校机构处于非内校状态。
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