[实用新型]一种用于X射线衍射测定的密封样品架有效
| 申请号： | 201420620669.6 | 申请日： | 2014-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN204255712U | 公开（公告）日： | 2015-04-08 |
| 发明（设计）人： | 李瑞峰;王秀绘 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/20 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 王玉双;祁建国 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于X射线衍射测定的密封样品架，其特征在于，包括：加样口、样品槽、加样漏斗、密封塞；所述样品槽开设于所述密封样品架的上半部，所述加样口设置于所述样品槽的顶端或侧面，所述加样漏斗将环境敏感样品从所述加样口加入到所述样品槽中，当所述样品槽中的环境敏感样品填满后，用所述密封塞等封好所述加样口。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 衍射 测定 密封 样品 | ||
【主权项】：
一种用于X射线衍射测定的密封样品架，其特征在于，包括：加样口、样品槽、加样漏斗、密封塞；所述样品槽开设于所述密封样品架的上半部，所述加样口设置于所述样品槽的顶端或侧面，所述加样漏斗将环境敏感样品从所述加样口加入到所述样品槽中，当所述样品槽中的环境敏感样品填满后，用所述密封塞封好所述加样口。
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