[实用新型]嵌入式单板的DDR颗粒信号测试治具有效
| 申请号： | 201420634930.8 | 申请日： | 2014-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN204102578U | 公开（公告）日： | 2015-01-14 |
| 发明（设计）人： | 姜韬;陈卫东;范建根 | 申请（专利权）人： | 苏州科达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 鲍相如 |
| 地址： | 215011 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种嵌入式单板的DDR颗粒信号测试治具，其特征在于：包括，板体（2），所述板体（2）的底层焊接于待测单板（1）上，所述板体（2）的表层设置有焊盘（4），所述焊盘（4）与待测单板（1）的DDR颗粒焊接连接，所述板体（2）的表层上还设置有若干测试孔（3），所述测试孔（3）与所述DDR颗粒信号一一对应并电连接。该测试治具解决了现有用于测试嵌入式单板DDR颗粒信号的测试方法较为复杂，测试不充分，测试结果不准确。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 单板 ddr 颗粒 信号 测试 | ||
【主权项】：
一种嵌入式单板的DDR颗粒信号测试治具，其特征在于：包括，板体（2），所述板体（2）的底层焊接于待测单板（1）上，所述板体（2）的表层设置有焊盘（4），所述焊盘（4）与待测单板（1）的DDR颗粒焊接连接，所述板体（2）的表层上还设置有若干测试孔（3），所述测试孔（3）与所述DDR颗粒信号一一对应并电连接。
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