[实用新型]一种磁卡模块测试设备有效
| 申请号： | 201420663895.2 | 申请日： | 2014-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN204479663U | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 韦敏荣;舒雄;杨再林 | 申请（专利权）人： | 深圳安博电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型适用于产品测试技术领域，提供了一种磁卡模块测试设备，所述设备包括：主控电路；以及分别与主控电路连接的显示模块、电机控制电路、供电电路、速度传感器和位置传感器。本实用新型通过所述主控电路采集速度传感器和位置传感器的输出值，并根据所述输出值来控制电机控制电路执行一系列的刷卡动作，从而实现了磁卡模块的自动化测试，代替了传统的人工劳动，能够有效地减少劳动强度以及劳动成本，提高磁卡模块测试的效率；进一步地，由于本设备是借助电机来执行刷卡动作的，与人工测试相比，其刷卡速度的准确性高，有效地降低了刷卡的误刷率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁卡 模块 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种磁卡模块测试设备，其特征在于，所述设备包括：主控电路；以及分别与主控电路连接的显示模块、电机控制电路、供电电路、速度传感器和位置传感器。
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