[实用新型]一种用于分析三氯氢硅中痕量杂质的前处理装置有效

专利信息
申请号: 201420668158.1 申请日: 2014-11-11
公开(公告)号: CN204214707U 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 张福海;蔡延国;王生红;刘元香;征取;季静佳 申请(专利权)人: 亚洲硅业(青海)有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 兰州中科华西专利代理有限公司 62002 代理人: 李艳华
地址: 810007 青海*** 国省代码: 青海;63
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摘要: 实用新型涉及一种用于分析三氯氢硅中痕量杂质的前处理装置,该装置包括密闭装置主体、混合气体收集器、吸收塔、与所述密闭装置主体相连的样品瓶。所述密闭装置主体的一侧设有混合气体出口接口,其中部设有氮气进口接口,其内壁设有螺纹Ⅰ;所述氮气进口接口通过硅胶管Ⅰ依次连接流量计、氮气控制阀至氮气管路;所述混合气体出口接口通过硅胶管Ⅱ与所述混合气体收集器相连,该混合气体收集器的一端经混合气体进口与所述吸收塔相连;所述吸收塔的一侧设有自来水出口,其顶部设有未反应的其它气体出口,其塔内上部设有带喷啉头的自来水管线,该自来水管线外接自来水总管;所述样品瓶设有外罩。本实用新型操作简单、重现性较好,可避免样品污染。
搜索关键词: 一种 用于 分析 三氯氢硅中 痕量 杂质 处理 装置
【主权项】:
一种用于分析三氯氢硅中痕量杂质的前处理装置,其特征在于:该装置包括密闭装置主体(1)、混合气体收集器(2)、吸收塔(3)、与所述密闭装置主体(1)相连的样品瓶(4);所述密闭装置主体(1)的一侧设有混合气体出口接口(11),其中部设有氮气进口接口(12),其内壁设有螺纹Ⅰ(13);所述氮气进口接口(12)通过硅胶管Ⅰ依次连接流量计(14)、氮气控制阀(15)至氮气管路(6);所述混合气体出口接口(11)通过硅胶管Ⅱ与所述混合气体收集器(2)相连,该混合气体收集器(2)的一端经混合气体进口(31)与所述吸收塔(3)相连;所述吸收塔(3)的一侧设有自来水出口(32),其顶部设有未反应的其它气体出口(33),其塔内上部设有带喷啉头(34)的自来水管线(35),该自来水管线(35)外接自来水总管;所述样品瓶(4)设有外罩(5)。
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