[实用新型]实现两种模式的MIPI模组测试系统

摘要

本实用新型公开了一种实现两种模式的MIPI模组测试系统，包括PG图像发生器、MCU和FPGA，PG图像发生器分别与MCU和FPGA连接，MCU与FPGA通过EBI接口连接，MCU与桥接芯片通过SPI接口连接，FPGA通过桥接芯片与MIPI模组连接，本实用新型能够实现VIDEO模式和COMMAND模式两种模式MIPI模组的点屏测试；除了基本的点屏测试功能，本技术方案提供了COMMAND模式MIPI模组的Vcom调节、模组ID读取和保存、MTP数据编辑和烧录等多种测试功能，适应了MIPI生产过程中的多种需求。

主权项

一种实现两种模式的MIPI模组测试系统，其特征在于：包括PG图像发生器(1)、MCU(2)和FPGA(3)，所述PG图像发生器(1)分别与MCU(2)和FPGA(3)连接，所述MCU(2)与FPGA(3)通过EBI接口连接，所述MCU(2)与桥接芯片(4)通过SPI接口连接，所述FPGA(3)通过桥接芯片(4)与MIPI模组(5)连接，所述PG图像发生器(1)用于根据MIPI模组(5)的类型设置VIDEO模式或者COMMAND模式的寄存器配置参数和图像数据，并将VIDEO模式或者COMMAND模式的寄存器配置参数发送至MCU(2)，将VIDEO模式或者COMMAND模式的图像数据发送至FPGA(3)；所述MCU(2)用于将VIDEO模式的寄存器配置参数转化为DCS指令并通过SPI接口发送至桥接芯片(4)，将COMMAND模式的寄存器配置参数转化为DCS指令并通过EBI接口发送至FPGA(3)；所述FPGA(3)用于在VIDEO模式将图像数据通过RGB接口发送至桥接芯片(4)，在COMMAND模式将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片(4)。