[实用新型]后级单电阻PNP型达林顿功率晶体管有效

专利信息
申请号: 201420746089.1 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN204204857U 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 龚利汀;易琼红;龚利贞 申请(专利权)人: 无锡固电半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L29/735;H01L29/06;H01L23/29;H01L29/45
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214028 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种后级单电阻PNP型达林顿功率晶体管,包括一P型衬底,形成于P型衬底背面的背面金属层,用于形成前级晶体管T1和后级晶体管T2共接的集电极;在P型衬底的正面形成有相互隔离的前级晶体管T1的N型基区和后级晶体管T2的N型基区;前级晶体管T1的N型基区和后级晶体管T2的N型基区间形成有P+型发射区隔离墙;在前级晶体管T1的N型基区内形成有前级晶体管T1的P+型发射区;在后级晶体管T2的N型基区内形成有后级晶体管T2的P+型发射区;在T2管的基区和发射区之间形成有P+型发射区电阻;在P型衬底的正面覆盖有氧化层;具有击穿电压高、电流大、二次击穿耐量高、饱和压降小、开关时间短、抗烧毁性强、可靠性高等特点。
搜索关键词: 后级单 电阻 pnp 型达林顿 功率 晶体管
【主权项】:
一种后级单电阻PNP型达林顿功率晶体管,包括一P型衬底,其特征在于,还包括:形成于P型衬底背面的背面金属层(8),用于形成前级晶体管T1和后级晶体管T2共接的集电极;在P型衬底的正面形成有相互隔离的前级晶体管T1的N型基区(5)和后级晶体管T2的N型基区(11);前级晶体管T1的N型基区(5)和后级晶体管T2的N型基区(11)间形成有P+型发射区隔离墙(10);在前级晶体管T1的N型基区(5)内形成有前级晶体管T1的P+型发射区(4);在后级晶体管T2的N型基区(11)内形成有后级晶体管T2的P+型发射区(12);在T2管的基区和发射区之间形成有P+型发射区电阻(9);在P型衬底的正面覆盖有氧化层(3);P型衬底的正面氧化层(3)之上还形成有连接前级晶体管T1的P+型发射区(4)和后级晶体管T2的N型基区(11)的连接金属层(2);在前级晶体管T1的N型基区(5)上方的衬底正面设有前级晶体管T1基极金属层(13),用于形成T1管的基极;在后级晶体管T2的P+型发射区(12)上方的衬底正面设有后级晶体管T2发射极金属层(14),用于形成T2管的发射极;在P型衬底的正面最外层覆盖有钝化层(1)。
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