[实用新型]磁通检测设备有效
申请号: | 201420821439.6 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN204347227U | 公开(公告)日: | 2015-05-20 |
发明(设计)人: | 孙浩;张来树 | 申请(专利权)人: | 三环瓦克华(北京)磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 北京航忱知识产权代理事务所(普通合伙) 11377 | 代理人: | 陈立航 |
地址: | 102200*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 提供一种磁通检测设备,包括:传送带(1),具有在水平方向上延伸的上表面,用于将待测磁体放置在所述上表面;磁通仪(2),用来测量磁通数值;以及赫姆霍兹线圈(4),用于将待测磁体切割磁场所产生的电流传给所述磁通仪,所述传送带的所述上表面从所述赫姆霍兹线圈的一端穿入,从所述赫姆霍兹线圈的另一端穿出。本实用新型的磁通检测设备能够适应磁通检测的特点,提高检测可信度和工作效率,降低人工劳动强度。 | ||
搜索关键词: | 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种磁通检测设备,其特征在于,包括:传送带(1),具有在水平方向上延伸的上表面,用于将待测磁体放置在所述上表面;磁通仪(2),用来测量磁通数值;以及赫姆霍兹线圈(4),用于将待测磁体切割磁场所产生的电流传给所述磁通仪,所述传送带的所述上表面从所述赫姆霍兹线圈的一端穿入,从所述赫姆霍兹线圈的另一端穿出。
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