[实用新型]一体式液晶模组测试装置有效
| 申请号： | 201420859278.X | 申请日： | 2014-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN204375388U | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 彭骞;周金;田方力;秦明;沈亚非;陈凯 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 黄行军;刘琳 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种一体式液晶模组测试装置，包括ARM核心模块、信号处理模块、电源模块、信号输出及控制模块，信号输出及控制模块包括MCU子模块、FPGA信号处理子模块、信号处理转换芯片和信号输出子模块，ARM核心模块分别与信号处理模块、电源模块及信号输出及控制模块连接，信号处理模块与信号输出及控制模块连接，电源模块和信号输出子模块分别与待测液晶模组连接。本实用新型将上位机的操作系统及测试应用程序运行平台集成到液晶模组测试设备上，脱离上位机直接进行液晶模组配置及测试操作，无需共享或下载；另外，测试装置能同时兼容多种常见的测试信号，减少转接线材的使用。 | ||
| 搜索关键词： | 体式 液晶 模组 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种一体式液晶模组测试装置，其特征在于：包括ARM核心模块(1)、信号处理模块(2)、电源模块(3)、信号输出及控制模块(4)，所述信号输出及控制模块(4)包括MCU子模块(41)、FPGA信号处理子模块(42)、信号处理转换芯片和信号输出子模块，所述ARM核心模块(1)分别与信号处理模块(2)、电源模块(3)及信号输出及控制模块(4)连接，所述信号处理模块(2)与信号输出及控制模块(4)连接，所述电源模块(3)和信号输出子模块分别与待测液晶模组(8)连接。
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