[实用新型]X射线检查系统有效
| 申请号： | 201420867184.7 | 申请日： | 2014-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN204439577U | 公开（公告）日： | 2015-07-01 |
| 发明（设计）人： | 李树伟;张清军;康克军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/02 | 分类号： | G01N23/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 刘志强 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列和X射线束流强度监控装置，X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于探测器阵列上的工作束流和照射于探测器阵列之外的冗余束流，X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，强度探测模块设置于X射线发射装置和探测器阵列之间以接受冗余束流的照射并发出探测信号，数据处理模块与强度探测模块耦合以接收探测信号并输出X射线束流强度监控信号。该X射线检查系统的强度探测模块利用的是X射线束流的冗余束流，强度探测模块基本不受X射线发射装置和被检物体的影响，从而可使X射线束流强度的监控结果更加准确可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 系统 | ||
【主权项】：
一种X射线检查系统，包括X射线发射装置、探测器阵列(2)和X射线束流强度监控装置，所述X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于所述探测器阵列(2)上的工作束流和照射于所述探测器阵列(2)之外的冗余束流，其特征在于，所述X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块，所述强度探测模块设置于所述X射线发射装置和所述探测器阵列(2)之间以接受所述冗余束流的照射并发出探测信号，所述数据处理模块与所述强度探测模块耦合以接收所述探测信号并输出X射线束流强度监控信号。
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