[实用新型]一种老化测试装置有效
| 申请号： | 201420872896.8 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN204330978U | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 陈全;邵懿;文俊;周廷兴 | 申请（专利权）人： | 澜起科技（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 200233 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种老化测试装置。所述老化测试装置包括多路分配器，所述多路分配器的输入端连接一个测试通道，所述多路分配器的输出端连接所述老化测试装置的老化板上的多个待测试芯片。通过使用多路分配器(Demultiplexer)，来实现老化板上每一颗使用I2C/SMBus芯片的精确控制，从而使得需要使用的板级测试信道数量大大减少，降低了对于老化炉的向量驱动能力的要求，减少了出错的可能性。使用本实用新型使老化测试装置在输入端布局和布线更简单，不仅降低了老化测试装置生产和调试的成本，而且有助于缩短整个老化流程的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括多路分配器，所述多路分配器的输入端连接一个测试通道，所述多路分配器的输出端连接所述老化测试装置的老化板上的多个待测试芯片。
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