[发明专利]读取由周期性偏振纳米结构表示的数据的方法有效

专利信息
申请号: 201480004862.X 申请日: 2014-01-13
公开(公告)号: CN104919284B 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: 马修·唐纳德·基德;尼古拉斯·约翰·韦斯顿;詹姆斯·雷诺兹·亨肖;马库斯·阿德龙;约翰·黛尔迪丝;罗伯特·汤姆森 申请(专利权)人: 瑞尼斯豪公司
主分类号: G01D5/34 分类号: G01D5/34
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)11413 代理人: 谢攀,刘继富
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种读取由包括至少一个周期性纳米结构的标记表示的数据的方法,所述标记使用所述周期性纳米结构的一个偏振特性表示数据。所述方法包括检测从所述纳米结构反射或通过所述纳米结构透射的偏振的电磁辐射、以及从所述检测到的偏振的电磁辐射中确定由所述标记表示的所述数据,其中所述方法进一步包括将偏振的电磁辐射施用到所述纳米结构,和/或所述检测是使用一个偏振敏感检测器设备来执行。
搜索关键词: 读取 周期性 偏振 纳米 结构 表示 数据 方法
【主权项】:
一种读取由包括至少一个周期性纳米结构的标记表示的数据的方法,所述标记使用所述周期性纳米结构的一个偏振特性表示数据,其中所述至少一个周期性纳米结构包括激光引发的周期性表面结构,其通过用激光照射材料的区域来引发在所述区域上以有规律间距间隔开的多条实质上平行的线来形成,其中所述线的周期取决于所述激光的波长,并且其中所述周期性纳米结构的偏振特性取决于所述线的取向,并且所述方法包括:检测从所述周期性纳米结构反射或通过所述周期性纳米结构透射的偏振的电磁辐射;以及从检测到的所述偏振的电磁辐射中确定由所述标记表示的所述数据,其中:所述方法进一步包括将偏振的电磁辐射施用到所述周期性纳米结构,和/或所述检测是使用偏振敏感检测器设备来执行。
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