[发明专利]用于借助计算机层析X射线摄影术确定结构的几何形状的方法和设备

摘要

本发明涉及一种用于至少应用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法，该计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和探测器、优选地面探测器组成，其中通过计算机层析X射线摄影术传感装置例如在材料过渡的区域中生成表面测量点。为了利用任意的额定几何形状、特别是在没必要存在CAD模型的情况下来选择为了确定几何形状特征而要使用的表面测量点，提出：为了确定几何形状特征使用表面测量点，所述表面测量点基于可预先给定的规则被分配给要确定的几何形状特征，并且从所分配的表面测量点确定几何形状特征。

主权项

1.用于至少使用计算机层析X射线摄影术传感装置来确定物体上的结构的几何形状的方法，所述计算机层析X射线摄影术传感装置至少由辐射源、机械旋转轴和面探测器组成，其中通过所述计算机层析X射线摄影术传感装置在材料过渡的区域中生成表面测量点，其特征在于，为了确定几何形状特征，在没有事先存在的CAD模型的情况下执行如下步骤：1）选择表面测量点，所述表面测量点基于可预先给定的规则通过考虑额定几何形状被分配给要确定的几何形状特征，其中所述特征的额定几何形状通过测量标准部件或借助至少一个参数集或借助手动地至少粗略地由操作者确定的几何元素来确定，以及其中所述额定几何形状由从一个由直线、直线片段、圆、圆片段、球、球片段、圆柱、圆柱片段、圆锥、圆锥片段、环面、环面片段组成的集合中选择的一个或多个几何元素组成，其中通过所述几何元素定义所述额定几何形状的至少一个CAD元素，以及2）从在步骤1）中所选择的表面测量点确定所述结构的几何形状特征。