[发明专利]使用基于环式振荡器的物理不可克隆函数及老化检测电路的集成电路识别及可靠度验证有效
| 申请号： | 201480007659.8 | 申请日： | 2014-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN104969468B | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 郭旭;布莱恩·M·罗森贝格 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H03K3/03 | 分类号： | H03K3/03;G01R31/317;H03K3/84;H04L9/32 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 宋献涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一个特征涉及一种集成电路“IC”，其包含：经配置以部分地实施物理不可克隆函数“PUF”的第一多个环式振荡器(318)。所述IC进一步包含经配置以部分地实施老化传感器电路的第二多个环式振荡器(320)，且也包含耦接到所述第一多个环式振荡器(318)及所述第二多个环式振荡器(320)的环式振荡器选择电路(312)。所述环式振荡器选择电路(312)经调适以选择来自所述第一多个环式振荡器(318)及/或所述第二多个环式振荡器(320)中的至少一者的至少两个环式振荡器输出(322n)。特别地，所述环式振荡器选择电路(312)通常由所述PUF及所述老化传感器电路共享。又，所述IC可进一步包含经调适以接收并比较所述两个环式振荡器输出且产生输出信号(326)的输出功能电路(314)。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 基于 振荡器 物理 不可 克隆 函数 老化 检测 电路 集成电路 识别 可靠 验证 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，其包括：经配置以部分地实施物理不可克隆函数PUF的第一多个环式振荡器(318)；经配置以部分地实施老化传感器电路的第二多个环式振荡器(320)；及耦接到所述第一多个环式振荡器(318)及所述第二多个环式振荡器(320)的环式振荡器选择电路(312)，所述环式振荡器选择电路(312)经调适以选择来自所述第一多个环式振荡器(318)及/或所述第二多个环式振荡器(320)中的至少一者的至少两个环式振荡器输出(324a、324b)，其中所述环式振荡器选择电路(312)由所述PUF及所述老化传感器电路共享。
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