[发明专利]用于确定介质中的荧光物质浓度的方法和设备有效
| 申请号： | 201480009058.0 | 申请日： | 2014-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN105074434B | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | W·福格尔 | 申请（专利权）人： | VWM有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 奥地利，*** | 国省代码： | 奥地利;AT |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定介质中的荧光物质的浓度(c)的方法和设备(1)，其中，将具有激发波长(λex)的激发辐射辐射通过具有荧光物质的介质，使荧光物质以这样的方式激发，使得荧光物质发射具有荧光波长(λem)的荧光辐射，其中对荧光的强度(Ifluor)进行测量，介质中的荧光物质的浓度(c)根据荧光辐射的强度确定，其中，另外对激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)进行测量，其中荧光物质的浓度(c)根据激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)以及荧光的强度(Ifluor)确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 介质 中的 荧光 物质 浓度 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定介质中的荧光物质的浓度(c)的方法，其中将具有激发波长(λex)的激发辐射辐射通过具有荧光物质的介质，使荧光物质以这样的方式激发，使得荧光物质发射具有荧光波长(λem)的荧光辐射，其中对荧光辐射的强度(Ifluor)进行测量，介质中的荧光物质的浓度(c)根据荧光辐射的强度确定，所述方法的特征在于，另外对激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)进行测量，其中荧光物质的浓度(c)根据激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)以及荧光辐射的强度(Ifluor)确定；其中，另外将具有荧光波长(λem)的荧光吸收辐射辐射通过具有荧光物质的介质，对荧光吸收辐射的透射部分的强度(Itrans,em)进行测量，而根据激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)、荧光辐射的强度(Ifluor)以及荧光吸收辐射的透射部分的强度(Itrans,em)来确定荧光物质的浓度(c)；其中，对荧光辐射的强度(Ifluor)和对激发辐射的透射部分的强度(Itrans,ex)在具有荧光物质的介质的相同的体积单元处同时进行测量；以及其中，对荧光辐射的强度(Ifluor)和对荧光吸收辐射的透射部分的强度(Itrans,em)在相同的传感器上进行测量。
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