[发明专利]用于材料分析的方法和装置在审
| 申请号： | 201480012265.1 | 申请日： | 2014-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN105143868A | 公开（公告）日： | 2015-12-09 |
| 发明（设计）人： | T·登纳;J·布卢姆;O·M·谢菲儿;M·霍勒林;M·格拉德;G·赫尔;A·尼梅赫;T·希尔帕特;A·佛里则尔;S·劳特巴赫;A·斯特劳贝尔;G·凯瑟;S·施默尔茨尔;M·迈耶尔;S·克奈伯;R·普瑞尔斯;M·吉普哈德;E·莫克赫娜;A·辛德勒 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/48 | 分类号： | G01N25/48 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 刘世杰;王桂玲 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种方法和一种热分析装置，该热分析装置具有保持元件(6)和至少一个温度探测器件(18)，该保持元件具有用于试样保持器(8)的支承面(4)，该温度探测器件对应于该试样保持器(8)。此外，本发明还涉及一种试样保持器(8)以及一种热分析装置的温度探测器件(18)的制造方法。为此，待探测的热流基本上通过限定的、位于支承面(4)和试样保持器(8)之间的接触点(16)引导至温度探测器件(18)，其中支承面(44)和/或试样保持器(8)具有构成接触点(16)的隆起(34)或凹陷处(10)，这些隆起或凹陷处限定出对应于该支承面(4)的相关的热流区，其中温度探测器件(18)的温度探测区(20)设置在相关的热流区的内部。对于构成为热电偶(18)的温度探测器件的制造方法来说，该温度探测器件包括至少两个由不同金属构成的元件，其中第一金属元件A借助比第二金属元件B更大的膨胀系数配合精确地装入构成为中空型材的第二金属元件B中，并且这两个元件A、B在第一工作步骤中加热并且随后在第二工作步骤中再次冷却。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 材料 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种热分析装置，所述热分析装置具有保持元件(6)，该保持元件具有用于试样保持器的支承面(4)，该保持元件配备有至少一个温度探测器件(18)，其特征在于，所述支承面(4)和/或所述试样保持器(8)具有构成接触点(16)的隆起(34)或凹陷处(10)，所述隆起或凹陷处限定出对应于该支承面(4)的相关的热流区，其中所述温度探测器件(18)的温度探测区设置在相关的热流区的内部。
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