[发明专利]微粒分析装置、微粒分析方法和微粒分析系统有效

专利信息
申请号: 201480013126.0 申请日: 2014-02-19
公开(公告)号: CN105074435B 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 村木洋介 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N15/14
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 田喜庆;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了能够容易地分离从微粒发出的荧光的多种光谱数据的微粒分析装置、微粒分析方法、程序和微粒分析系统。该微粒分析装置包括数据提取单元,该数据提取单元从关于从微粒发出的荧光的光谱数据选择性地提取包含预定信息的光谱数据。该数据提取单元从指示从所述微粒发出的荧光针对多个波长中的每一个的强度的一种或多种光谱数据选择性地提取指示预先设置的波长范围中的最大强度的光谱数据。
搜索关键词: 微粒 分析 装置 方法 程序 系统
【主权项】:
1.一种微粒分析装置,包括数据提取单元,所述数据提取单元被配置为基于光谱数据的最大强度从微粒发出的荧光的所述光谱数据中选择性地分离包含预定信息的所述光谱数据,其中,所述数据提取单元从所述微粒发出的荧光针对多个波长中的每一个的强度的一种或多种光谱数据中选择性地分离指示预先设置的波长范围中的最大强度的光谱数据,用户信息获取单元,获取包含关于波长范围的信息的用户输入信息,其中,所述数据提取单元基于所述用户输入信息选择性地分离所述光谱数据。
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