[发明专利]金属配线用基板清洗剂和半导体基板的清洗方法在审

专利信息
申请号: 201480015211.0 申请日: 2014-04-09
公开(公告)号: CN105190846A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 水田浩德;绵引勉;前泽典明 申请(专利权)人: 和光纯药工业株式会社
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;C11D7/32
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 庞东成;褚瑶杨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种在半导体元件的制造工序中的化学机械研磨(CMP)后清洗工序中用于具有金属配线的基板的清洗剂以及特征在于使用该清洗剂的半导体基板的清洗方法,其中,所述基板用清洗剂包含pH为10以上的水溶液,所述水溶液含有(A)具有含氮杂环的羧酸和(B)烷基羟胺。
搜索关键词: 金属 配线用基板清 洗剂 半导体 清洗 方法
【主权项】:
一种用于具有金属配线的基板的清洗剂,其中,其包含pH为10以上的水溶液,所述水溶液含有(A)具有含氮杂环的羧酸和(B)烷基羟胺。
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