[发明专利]半导体晶粒封装或载体装载方法与相应的设备有效
申请号: | 201480015287.3 | 申请日: | 2014-02-05 |
公开(公告)号: | CN105247671B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 约翰内斯·科内利斯·德北尔;米歇尔·亨德里克斯·安东尼斯·威廉默斯·吕滕;盖尔·赫伊津;迈克·路易斯·西奥多·赫德马克尔 | 申请(专利权)人: | 波斯科曼技术公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B29C45/02 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,吴启超 |
地址: | 荷兰德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体晶粒封装或载体装载方法,所述方法包括以下步骤,提供第一工具部分以支撑多重半导体晶粒并于所述第一工具部分上提供所述半导体晶粒;提供第二工具部分,所述第一与第二工具部分之一包括多数可位移插入元件,以允许利用每一可位移插入元件对半导体晶粒的表面区域上施加压力;以及将所述第一与第二工具部分联合,因此在所述第一与第二工具部分之间定义空间,所述半导体产品便布置于所述空间中。所述可位移插入元件则对所述半导体晶粒的所述表面区域上施加压力。由所述可位移插入元件所施加的压力是受监控及调节为预定压力。接着,将所述第一与第二工具部分分开并去除所述已处理半导体晶粒。 | ||
搜索关键词: | 半导体 晶粒 封装 载体 装载 方法 相应 设备 | ||
【主权项】:
一种半导体晶粒封装方法,所述方法包括以下步骤:提供第一工具部分(110),所述第一工具部分被构造与布置以在关联于所述第一工具部分的多个位置处支撑多个半导体晶粒(10);在所述关联于所述第一工具部分的所述位置提供多个半导体晶粒;提供第二工具部分(120),所述第一与第二工具部分的一个包括多个可位移插入元件(200),所述可位移插入元件被构造与布置以允许由每一可位移插入元件对在所述第一工具部分上所提供半导体晶粒的表面区域上施加压力,所述关联于所述第一工具部分的所述位置的每一位置都与一或多个可位移插入元件关联;将所述第一与第二工具部分(110、120)联合,因此于所述第一与第二工具部分之间定义空间(130),所述半导体晶粒则布置于所述空间中;使所述可位移插入元件(200)对所述半导体晶粒(10)的所述表面区域上施加力量;监控由每一可位移插入元件所施加的力量;将由每一可位移插入元件所施加的力量调节为预定力量;分开所述第一与第二工具部分;以及去除已处理半导体晶粒。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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